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Plate-forme de compétences en Spectroscopies et Microscopies des Interfaces |
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A Spectroscopie des interfaces : 1) Spectroscopies vibrationnelles: Contact local : J. Grausem (IE2), M. Dossot (EC), C Carteret (EC) Equipements: Microsonde Raman confocale Jobin Yvon T64000 (488 nm, 457 nm, 514 nm, 632 nm)Infrarouge Thermo Nicolet 8700 FTIR du proche IR au lointain IR (Transmission, ATR diamant et ZnSe, DRIFT) |
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2) Spectroscopie électronique de surface : XPS à résolution angulaire : Contact local : M. Mullet (EC) Equipement : Marque : KRATOS, Modèle : AXIS Ultra DLD (Delay Line Detector) Analyseur hémisphérique à 180 degrés, 165mm de rayon moyenSource X : Al-Ka, 1486.6 eV monochromatisée; FWHM de la raie Al Kα< 0,26eV Neutraliseur de charges automatique (source d'électrons à basse énergie). 3) Spectrométrie nucléaire (Mössbauer du Fer 57): Contact local : M. Abdelmoula (IR2) Equipements : Réflexion : CEMS, XMS, ΓMS, (MIMOS ambiante et in situ) Transmission à basse températureCryostat Cryo Industries of America (2 à 300 K) Tête Froide (4 à 300 K, cycle Gifford Mac-Mahon) 2 Sources radioactives 50 mCi de 57Co 2 Spectromètres Halder B Microscopie des interfaces : 1) Microscopie à force atomique Contact local : G. Francius (C CNRS) Equipement : AFM asylum : modèle MFP3D-Bio Close fluid cellMicroscope optique Olympus IX71 3 objectifs LUCPlanFL N (×4, ×20 et ×60) Laser Olympus TH4-200 Cantilevers Veeco modèles : MSCT-AUNM, RTESP7 2) Microscopie électrochimique à balayage (SECM) Contact local : M. Etienne (C CNRS) Equipement : Electrodes : platine (25µm-100 nm), or (25 µm), carbone (7 µm). Positionnement de l’électrode : moteurs (25 mm, résolution de 1 µm) et éléments piézoélectriques (100 µm, résolution de 1 nm).Mesures électrochimiques : bipotentiostat PalmSens et potentiostat NPI VA10. Contrôle de la position de l’électrode :électrochimie et mesure de forces de cisaillement. |
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